在半导体器件与材料电性测试领域,有效、稳定、灵活的测试平台是科研与生产的关键。华测仪器推出的小型探针台系列(Huace-S4 / Huace-S6),凭借其优秀的性能与模块化设计,已成为高校实验室、研究所及半导体企业中备受信赖的测试工具。

Huace-S4与Huace-S6探针台分别支持4英寸与6英寸样品,配备X-Y移动系统,行程达4英寸×4英寸,移动精度可达10μm,并可选配的探针座(低至0.5μm),满足从基础教学到前沿科研的多样化需求。
样品台支持360°旋转与±15°微调,角度控制精度高达0.1°,并配有锁死装置,确保多角度测试时的稳定性与重复性。
U型针座平台可容纳6个探针座,支持磁力或真空吸附,适配多种探针夹具与线缆类型(同轴线/三轴线),漏电精度可选10pA / 100fA / 10fA,满足不同灵敏度要求的电性测试。
无论是I-V/C-V特性测试、材料电阻率分析,还是光电响应与射频信号测试,Huace系列探针台都能轻松应对。
配备单筒或体式显微镜,放大倍率范围16X至200X,支持水平360°旋转与Z轴50.8mm升降,结合200万至1200万像素CCD与LED环形光源,成像清晰,操作严谨,助力用户轻松完成微米级探针定位。
样品台电学独立悬空,支持背电极测试,配有4mm插孔。真空吸附系统采用中心孔+多圈吸附环设计,适用于多种尺寸与材质的样品,确保测试过程中样品稳固不移位。
华测小型探针台支持丰富的可选附件,包括:
加热台、镀金卡盘
屏蔽箱、光学平台
射频/光电测试配件
各类转接头、显示器等
可根据用户具体测试需求进行定制化扩展,真正实现“一机多用”。
型号:Huace-S4 / Huace-S6
X-Y移动精度:10μm
样品台旋转:360° + 15°微调,精度0.1°
显微镜放大倍率:16X~200X
探针座行程:12mm×12mm×12mm
漏电精度:10pA / 100fA / 10fA
外形尺寸:400mm×400mm×500mm
重量:约25kg
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