绝缘材料研发利器：表面电位衰减系统助力高压电缆与电容器薄膜可靠性提升

在绝缘材料、半导体器件与电力装备的研发与质量控制中，材料表面的电荷行为与陷阱特性是决定其可靠性与寿命的关键因素。为满足科研与工业界对高稳定性测试设备的需求，我们推出表面电位衰减测试系统，支持高达±30 kV高压极化，具备有效温控、灵活电极配置与智能数据分析能力，评估介质材料的电荷动态衰减行为及陷阱能级分布。

高压极化 + 智能分析：表面电位衰减系统

系统概述

本系统集高压极化、环境模拟、信号采集与数据分析于一体，支持针、栅、板三种电极配置，可在可控温湿度环境下模拟材料实际工况。系统采用表面电位衰减法，通过电晕放电使样品表面带电，记录电荷脱陷过程中的电位变化，进而解析材料内部的陷阱深度与密度分布，为材料性能优化与可靠性评估提供数据支撑。

技术优势

高压极化与有效控制

支持±30 kV宽范围高压输出，负载调整率≤0.5%，稳定性≤0.1%/h，确保极化过程稳定可控。

控温加热台（室温～160℃，±0.2℃），配合湿度可调电极箱，满足多种环境条件下的测试需求。

高灵敏测量与快速响应

电位测量范围±10 kV，精度1 V，采集频率>1次/秒，搭配5～20 ms高速响应，有效捕捉瞬态电位变化。

配备专用数据采集卡与中文分析软件，自动提取陷阱分布参数，一键生成衰减曲线与分析报告，提升数据处理效率。

灵活电极配置与集成化设计

提供银/黄铜材质的针、栅、板电极，电极间隙0～100 mm可调，适配不同样品形态与测试场景。

集成化电极箱体整合加热台、支架及湿度模块，确保实验重复性与操作便捷性。

稳定性与安全性

电压调整率≤0.1%，温度系数≤0.1%/℃，长时间测试数据一致性好。

输出电流限制≤1 mA，符合高压操作安全标准，保障设备与人员安全。

应用领域

绝缘材料研发：评估高压电缆、电容器薄膜等材料的耐压性能与电荷消散特性。

半导体器件优化：表征栅极介质层、封装材料的电荷陷阱分布，提升器件可靠性。

电力设备质检：检测绝缘子、变压器套管等装备的绝缘老化状态，辅助寿命预测。

技术参数亮点

充电电源：±30 kV

加热台温度范围：室温～160℃，控温精度±0.2℃

电位测量范围：0～±10 kV，测量精度优于满量程的±0.1%

响应速度：1 kV阶跃变化响应时间<200 μs，20 kV阶跃变化响应时间<5 ms

数据采集：8路模拟输入，100 kS/秒，16位分辨率

电极结构：针、栅、板电极，银/黄铜材质，间隙0～100 mm可调

主机尺寸：64 cm × 59 cm × 45.5 cm，高压电源：48.2 cm × 50.5 cm × 14.5 cm