从陶瓷到半导体：一套系统搞定高温介电温谱与频谱

在功能材料与半导体器件研发不断深入的今天，高温环境下材料电学性能的有效表征，已成为制约材料研发效率与质量的关键环节。华测仪器依托多年在阻抗分析与温控技术领域的深厚积累，推出基于红外反射炉的高温介电温谱测试仪，以精度高、高稳定、高效率的测试能力，助力科研与检测工作迈向新台阶。

技术：平行板法 + 双屏蔽高频测试

本系统采用平行板法设计原理，参考ASTM标准，确保测试结果的重复性与稳定性。测试线缆采用双屏蔽高频结构，有效抑制外部电磁干扰，使抗干扰能力提升300倍，特别适用于弱信号、高频段的有效测量。

系统支持10Hz ~ 120MHz的宽频测试范围，可满足从低频介电响应到高频介电弛豫行为的全面分析需求。

温度控制：近红外镀金聚焦炉 + 温控

不同于传统管式炉或马弗炉的电阻丝加热方式，本设备采用近红外反射炉技术，通过高能量红外灯与镀金抛物面反射器组合，实现：

高速加热与冷却：升温速率可达10℃/min，并可搭配水冷及气体冷却实现快速降温；

温度均匀性：在宽域均热区内实现良好的温度分布；

控温精度：温度波动小于±0.25℃，控温精度优于传统加热方式；

灵活气氛控制：支持真空、高纯惰性气体静态或流动气氛，适用于对气氛敏感的材料测试。

设备温度范围覆盖室温至1450℃（可根据客户需求进行定制），满足从常规陶瓷到高温功能材料的测试需求。

软件平台：Huacepro，专业、智能、安全

基于LabVIEW系统开发的Huacepro测试软件，集成了丰富的自定义测试功能，支持：

介电温谱、频谱、升温速率、测量参数等多维度设置；

并联/串联等效电路模式可选；

实时采集并计算介电常数（ε'、ε''）、损耗（D）、阻抗（Z）、电容（C）、品质因数（Q）、Cole-Cole图谱、机电耦合系数（Kp）等关键参数；

异常保护机制：过压、过流、超温时自动保护，电脑异常或瞬时断电时数据自动保存，重启后恢复试验。

软件兼容华测、Keysight、Wayne Kerr、同惠等多品牌阻抗分析仪，具备很强的扩展性与通用性。

产品优势总结

应用场景

本系统广泛应用于：

压电陶瓷、介电陶瓷材料的温谱与频谱特性研究；

半导体与纳米器件的高频、高温电学性能评估；

功能薄膜、储能材料的介电响应分析；

高校、科研院所及企业研发中心的新材料电学性能检测与质量控制。