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华测仪器的HC-RD-1100可以同时测定样品在RT至1500°C温度范围内的塞贝克系数和电阻率。提供惰性、氧化、还原、真空多气氛环境，适配材料在不同反应条件下的性能评估。塞贝克系数测量范围 1～2500μV/K ，准确度达 ±7% ，重复性 ±3% ，有效捕捉微弱热电效应；电导率测量范围覆盖 0.01～2×10^5 s/cm ，准确度 ±5～8% ，支持从绝缘体到导体的全品类材料电阻率分析；采用静态直流法（塞贝克系数）与四端法（电阻率），测量结果稳定可靠。
传感器多功能综合测试系统是一款高度集成化、多参数协同检测的科研设备，专为材料科学、电子器件、能源及传感技术领域的复杂测试需求设计。系统融合温度、电阻、电容、压电、电化学五大测试模块，支持40通道同步测量与8通道电化学分析，覆盖-20℃至500℃宽温区、10pA至1A宽量程、20Hz至10MHz宽频段等关键参数，可有效完成材料介电特性、传感器动态响应、电化学行为等多维度表征。结合高性能工作站与智能化测控软件，系统满足从基础研究到产业化验证的全链条测试需求，为科研机构与企业提供高效、可靠的一体化解决方案。
直接测量片状、薄膜、板状的产品以及其它导体、半导体材料的体积电阻率
热刺激去极化电流（TSDC）技术用于预测EMC的HTRB性能。TSDC方法包括极化过程，在该过程中，电介质样品暴露在高电场强度和高温环境下。在这种情况下，电荷被分离并在介电材料电子元件中移动。尽管单个TSDC信号和HTRB性能之间的相关性表明，极化峰值越高，TSDC曲线越大，而HTRB性能越差，但这并不能完全解释EMC在发出强放电信号时的某些故障。因此，弛豫时间是解释外层HTRB失效样本的另一个关键参数。
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